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Scanning Probe Microscopy

Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 282 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 14.10.2006

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Scanning Probe Microscopy

Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 282 Seiten

Erscheinungsdatum: 28.06.2006

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Scanning Probe Microscopy

Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 282 Seiten

Erscheinungsdatum: 23.11.2010

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