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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Process-Aware SRAM Design and Test

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Verlag: Springer Netherland, 194 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 01.06.2008

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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Process-Aware SRAM Design and Test

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 194 Seiten

Erscheinungsdatum: 21.06.2008

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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Process-Aware SRAM Design and Test

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 194 Seiten

Erscheinungsdatum: 28.10.2010

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