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Ihre Suche ergab 13 Treffer.

Transmission Electron Microscopy

A Textbook for Materials Science

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 2, 775 Seiten

Erscheinungsdatum: 23.08.2016

109,99 € inkl. MwSt.
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Transmission Electron Microscopy

Diffraction, Imaging, and Spectrometry

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer International Publishing, 518 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 24.08.2016

85,59 € inkl. MwSt.
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Transmission Electron Microscopy

A Textbook for Materials Science

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, Auflage 2, 775 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 31.07.2009

117,69 € inkl. MwSt.
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Transmission Electron Microscopy

A Textbook for Materials Science

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 729 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 09.03.2013

85,59 € inkl. MwSt.
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Transmission Electron Microscopy

Diffraction, Imaging, and Spectrometry

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer International Publishing, Auflage 1, 518 Seiten

Erscheinungsdatum: 05.09.2016

128,39 € inkl. MwSt.
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Transmission Electron Microscopy

A Textbook for Materials Science

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 2, 775 Seiten

Erscheinungsdatum: 05.08.2009

128,39 € inkl. MwSt.
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Transmission Electron Microscopy

A Textbook for Materials Science

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 2, 775 Seiten

Erscheinungsdatum: 05.08.2009

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Transmission Electron Microscopy

Diffraction, Imaging, and Spectrometry

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer International Publishing, Auflage 1, 518 Seiten

Erscheinungsdatum: 12.06.2018

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X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 372 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

213,99 € inkl. MwSt.
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X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 372 Seiten

Erscheinungsdatum: 31.03.1995

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