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Energy-Efficient Fault-Tolerant Systems

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


This book describes the state-of-the-art in energy efficient, fault-tolerant embedded systems. It covers the entire product lifecycle of electronic systems design, analysis and testing and includes discussion of both circuit and system-level approaches.

Verlag: Springer US, 335 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 07.09.2013

149,79 € inkl. MwSt.
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Energy-Efficient Fault-Tolerant Systems

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


This book describes the state-of-the-art in energy efficient, fault-tolerant embedded systems. It covers the entire product lifecycle of electronic systems design, analysis and testing and includes discussion of both circuit and system-level approaches.

Verlag: Springer US, Auflage 1, 335 Seiten

Erscheinungsdatum: 08.09.2013

160,49 € inkl. MwSt.
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Energy-Efficient Fault-Tolerant Systems

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


This book describes the state-of-the-art in energy efficient, fault-tolerant embedded systems. It covers the entire product lifecycle of electronic systems design, analysis and testing and includes discussion of both circuit and system-level approaches.

Verlag: Springer US, Auflage 1, 335 Seiten

Erscheinungsdatum: 23.08.2016

160,49 € inkl. MwSt.
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Robust SRAM Designs and Analysis

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


This guide to Static Random Access Memory (SRAM) bitcell design and analysis meets the nano-regime challenges for CMOS devices and such emerging devices as Tunnel FETs. Offers popular SRAM bitcell topologies that mitigate variability, plus exhaustive analysis.

Verlag: Springer US, 168 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 01.08.2012

96,29 € inkl. MwSt.
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Robust SRAM Designs and Analysis

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


This guide to Static Random Access Memory (SRAM) bitcell design and analysis meets the nano-regime challenges for CMOS devices and such emerging devices as Tunnel FETs. Offers popular SRAM bitcell topologies that mitigate variability, plus exhaustive analysis.

Verlag: Springer US, Auflage 1, 168 Seiten

Erscheinungsdatum: 08.08.2014

106,99 € inkl. MwSt.
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Robust SRAM Designs and Analysis

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


This guide to Static Random Access Memory (SRAM) bitcell design and analysis meets the nano-regime challenges for CMOS devices and such emerging devices as Tunnel FETs. Offers popular SRAM bitcell topologies that mitigate variability, plus exhaustive analysis.

Verlag: Springer US, Auflage 1, 168 Seiten

Erscheinungsdatum: 31.07.2012

149,79 € inkl. MwSt.
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