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Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen

Der Einfluß ionenbeschußindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Deutscher Universitätsverlag, 211 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 29.07.2013

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Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen

Der Einfluß ionenbeschußindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Deutscher Universitätsverlag, Auflage 1, 211 Seiten

Erscheinungsdatum: 01.01.1995

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