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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer Berlin, 939 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 09.08.2006

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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer Berlin, Auflage 1, 939 Seiten

Erscheinungsdatum: 03.08.2006

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