Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Erweiterte Suche

Ihre Suche ergab 47 Treffer.


Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


This book covers modeling, simulation and analysis of analog circuit aging, nanometer CMOS physical effects resulting in unreliability, transistor aging compact models for circuit simulation, methods for efficient circuit reliability simulation and more.

Verlag: Springer US, 198 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 11.01.2013

96,29 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Substrate Noise Coupling in Mixed-Signal ASICs

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 287 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 31.05.2006

149,79 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Substrate Noise Coupling in Mixed-Signal ASICs

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 287 Seiten

Erscheinungsdatum: 07.12.2010

160,49 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Substrate Noise Coupling in Mixed-Signal ASICs

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 287 Seiten

Erscheinungsdatum: 28.02.2003

160,49 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


This book covers modeling, simulation and analysis of analog circuit aging, nanometer CMOS physical effects resulting in unreliability, transistor aging compact models for circuit simulation, methods for efficient circuit reliability simulation and more.

Verlag: Springer US, Auflage 1, 198 Seiten

Erscheinungsdatum: 09.01.2013

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


This book covers modeling, simulation and analysis of analog circuit aging, nanometer CMOS physical effects resulting in unreliability, transistor aging compact models for circuit simulation, methods for efficient circuit reliability simulation and more.

Verlag: Springer US, Auflage 1, 198 Seiten

Erscheinungsdatum: 19.06.2015

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Symbolic Analysis of Analog Circuits: Techniques and Applications

A Special Issue of Analog Integrated Circuits and Signal Processing

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 83 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

96,29 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Symbolic Analysis of Analog Circuits: Techniques and Applications

A Special Issue of Analog Integrated Circuits and Signal Processing

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 83 Seiten

Erscheinungsdatum: 04.10.2012

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Symbolic Analysis of Analog Circuits: Techniques and Applications

A Special Issue of Analog Integrated Circuits and Signal Processing

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 83 Seiten

Erscheinungsdatum: 31.01.1993

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

High-Level Modeling and Synthesis of Analog Integrated Systems

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer Netherland, 275 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 03.01.2008

149,79 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel