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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
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Noise in Nanoscale Semiconductor Devices
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Noise in Nanoscale Semiconductor Devices
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Nature, Aim and Methods of Microchemistry
Proceedings of the 8th International Microchemical Symposium Organized by the Austrian Society for Microchemistry and Analytical Chemistry, Graz, Austria, August 25–30, 1980
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Bis zur Unendlichkeit und noch viel weiter
Eine kosmische Entdeckungsreise
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Organic Electronics
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Modernisierungsfaktor Region
Subnationale Politik und Föderalisierung in Italien
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