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Endocrine and Neuroendocrine Surgery

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer Berlin, 344 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 07.06.2017

160,49 € inkl. MwSt.
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Endocrine and Neuroendocrine Surgery

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer Berlin, Auflage 1, 344 Seiten

Erscheinungsdatum: 26.06.2017

235,39 € inkl. MwSt.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Verlag: Springer Berlin, Auflage 3, 758 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 04.11.2007

93,08 € inkl. MwSt.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer Berlin, Auflage 2, 748 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 29.06.2013

85,59 € inkl. MwSt.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


This book explains aspects of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry that are important for characterization of materials. The 4th edition adds new techniques such as electron tomography, nanobeam diffraction and geometric phase analysis.

Verlag: Springer Berlin, Auflage 4, 764 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 13.10.2012

90,94 € inkl. MwSt.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


This book explains aspects of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry that are important for characterization of materials. The 4th edition adds new techniques such as electron tomography, nanobeam diffraction and geometric phase analysis.

Verlag: Springer Berlin, Auflage 4, 764 Seiten

Erscheinungsdatum: 09.11.2014

90,94 € inkl. MwSt.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


This book explains aspects of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry that are important for characterization of materials. The 4th edition adds new techniques such as electron tomography, nanobeam diffraction and geometric phase analysis.

Verlag: Springer Berlin, Auflage 4, 764 Seiten

Erscheinungsdatum: 14.10.2012

128,39 € inkl. MwSt.
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