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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer Berlin, 748 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 21.11.2013

85,59 € inkl. MwSt.
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In-situ Electron Microscopy

Applications in Physics, Chemistry and Materials Science

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Wiley-VCH, Auflage 1, 402 Seiten

Erscheinungsdatum: 26.04.2012

169,00 € inkl. MwSt.
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In-situ Electron Microscopy

Applications in Physics, Chemistry and Materials Science

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Wiley-VCH, Auflage 1, 402 Seiten

Elektronisches Format:

Erscheinungsdatum: 30.05.2012

151,99 € inkl. MwSt.
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In-situ Electron Microscopy

Applications in Physics, Chemistry and Materials Science

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Wiley-VCH, Auflage 1, 402 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 12.10.2012

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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Verlag: Springer Berlin, Auflage 3, 758 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 04.11.2007

93,08 € inkl. MwSt.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer Berlin, Auflage 2, 748 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 29.06.2013

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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


This book explains aspects of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry that are important for characterization of materials. The 4th edition adds new techniques such as electron tomography, nanobeam diffraction and geometric phase analysis.

Verlag: Springer Berlin, Auflage 4, 764 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 13.10.2012

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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


This book explains aspects of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry that are important for characterization of materials. The 4th edition adds new techniques such as electron tomography, nanobeam diffraction and geometric phase analysis.

Verlag: Springer Berlin, Auflage 4, 764 Seiten

Erscheinungsdatum: 09.11.2014

90,94 € inkl. MwSt.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


This book explains aspects of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry that are important for characterization of materials. The 4th edition adds new techniques such as electron tomography, nanobeam diffraction and geometric phase analysis.

Verlag: Springer Berlin, Auflage 4, 764 Seiten

Erscheinungsdatum: 14.10.2012

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