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Advances in X-Ray Analysis

Volume 27

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 596 Seiten

Erscheinungsdatum: 01.06.1984

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Advances in X-Ray Analysis

Volume 27

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 596 Seiten

Erscheinungsdatum: 02.10.2011

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Residual Stress

Measurement by Diffraction and Interpretation

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 276 Seiten

Erscheinungsdatum: 01.07.2012

139,09 € inkl. MwSt.
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Residual Stress

Measurement by Diffraction and Interpretation

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 276 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 07.03.2013

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Diffraction from Materials

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer Berlin, Auflage 2, 591 Seiten

Erscheinungsdatum: 13.07.2013

106,99 € inkl. MwSt.
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Diffraction from Materials

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer Berlin, Auflage 2, 591 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 17.04.2013

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Advances in X-Ray Analysis

Volume 29

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 600 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.06.1986

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