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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 234 Seiten

Erscheinungsdatum: 28.02.1995

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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 234 Seiten

Erscheinungsdatum: 02.11.2012

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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 234 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 09.03.2013

96,29 € inkl. MwSt.
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Graph-Based Representations in Pattern Recognition

10th IAPR-TC-15 International Workshop, GbRPR 2015, Beijing, China, May 13-15, 2015. Proceedings

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer International Publishing, 376 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 04.05.2015

53,49 € inkl. MwSt.
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Graph-Based Representations in Pattern Recognition

10th IAPR-TC-15 International Workshop, GbRPR 2015, Beijing, China, May 13-15, 2015. Proceedings

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer International Publishing, Auflage 1, 376 Seiten

Erscheinungsdatum: 16.04.2015

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