Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
Design, Test and Calibration
Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
Design, Test and Calibration
Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
Design, Test and Calibration
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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