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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


This book introduces new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. It details effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects.

Verlag: Springer US, 212 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 08.09.2011

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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


This book introduces new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. It details effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects.

Verlag: Springer US, Auflage 1, 212 Seiten

Erscheinungsdatum: 28.11.2014

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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


This book introduces new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. It details effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects.

Verlag: Springer US, Auflage 1, 212 Seiten

Erscheinungsdatum: 27.09.2011

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