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Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 191 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

149,79 € inkl. MwSt.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 191 Seiten

Erscheinungsdatum: 31.10.1998

160,49 € inkl. MwSt.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 191 Seiten

Erscheinungsdatum: 12.10.2012

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Formal Equivalence Checking and Design Debugging

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 229 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

181,89 € inkl. MwSt.
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 148 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.06.1989

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Formal Equivalence Checking and Design Debugging

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 229 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.09.2012

192,59 € inkl. MwSt.
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 229 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.06.1998

192,59 € inkl. MwSt.
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