Data Mining and Diagnosing IC Fails

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 250 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 03.10.2006

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Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 250 Seiten

Erscheinungsdatum: 21.06.2005

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Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 250 Seiten

Erscheinungsdatum: 08.12.2010

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