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Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 308 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 29.06.2013

85,59 € inkl. MwSt.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Process-Aware SRAM Design and Test

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Verlag: Springer Netherland, 194 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 01.06.2008

160,49 € inkl. MwSt.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 182 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 01.06.2006

96,29 € inkl. MwSt.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 182 Seiten

Erscheinungsdatum: 29.11.2010

106,99 € inkl. MwSt.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 182 Seiten

Erscheinungsdatum: 04.01.2006

106,99 € inkl. MwSt.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Process-Aware SRAM Design and Test

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 194 Seiten

Erscheinungsdatum: 21.06.2008

171,19 € inkl. MwSt.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Process-Aware SRAM Design and Test

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 194 Seiten

Erscheinungsdatum: 28.10.2010

171,19 € inkl. MwSt.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, Auflage 2, 328 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 04.06.2007

213,99 € inkl. MwSt.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 2, 328 Seiten

Erscheinungsdatum: 10.11.2010

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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 2, 328 Seiten

Erscheinungsdatum: 21.06.2007

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