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Nanometer Variation-Tolerant SRAM

Circuits and Statistical Design for Yield

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Verlag: Springer US, 172 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 26.09.2012

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Nanometer Variation-Tolerant SRAM

Circuits and Statistical Design for Yield

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Verlag: Springer US, Auflage 1, 172 Seiten

Erscheinungsdatum: 27.09.2012

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Nanometer Variation-Tolerant SRAM

Circuits and Statistical Design for Yield

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


Verlag: Springer US, Auflage 1, 172 Seiten

Erscheinungsdatum: 15.10.2014

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