Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Erweiterte Suche

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 178 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 11.04.2006

96,29 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 178 Seiten

Erscheinungsdatum: 28.02.2003

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 178 Seiten

Erscheinungsdatum: 09.12.2010

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Verlag: Springer US, 363 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 11.03.2010

106,99 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


Verlag: Springer US, Auflage 1, 363 Seiten

Erscheinungsdatum: 05.09.2014

117,69 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Verlag: Springer US, Auflage 1, 363 Seiten

Erscheinungsdatum: 23.11.2009

160,49 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel