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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
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High-Level Power Analysis and Optimization
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High-Level Power Analysis and Optimization
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High-Level Power Analysis and Optimization
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Embedded and Ubiquitous Computing
International Conference EUC 2004, Aizu-Wakamatsu City, Japan, August 25-27, 2004, Proceedings
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