Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Erweiterte Suche

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13–19, 1983

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer Berlin, 506 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

96,29 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

sofort lieferbar - Lieferzeit 1-3 Werktage

zum Artikel

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13–19, 1983

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer Berlin, Auflage 1, 506 Seiten

Erscheinungsdatum: 10.01.2012

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer Berlin, 300 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 11.11.2013

96,29 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

sofort lieferbar - Lieferzeit 1-3 Werktage

zum Artikel

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer Berlin, Auflage 1, 300 Seiten

Erscheinungsdatum: 13.12.2011

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel