Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si
Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)
84,00 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand
lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage
Noch Fragen? 0800 / 33 82 637