Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer International Publishing, 105 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 25.02.2016

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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer International Publishing, 93 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 16.11.2017

96,29 € inkl. MwSt.
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Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer International Publishing, 136 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 31.08.2022

53,49 € inkl. MwSt.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer International Publishing, Auflage 1, 105 Seiten

Erscheinungsdatum: 04.03.2016

53,49 € inkl. MwSt.
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Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer International Publishing, Auflage 1, 136 Seiten

Erscheinungsdatum: 02.09.2023

53,49 € inkl. MwSt.
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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer International Publishing, Auflage 1, 93 Seiten

Erscheinungsdatum: 04.12.2017

106,99 € inkl. MwSt.
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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer International Publishing, Auflage 1, 105 Seiten

Erscheinungsdatum: 15.06.2018

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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer International Publishing, Auflage 1, 93 Seiten

Erscheinungsdatum: 04.09.2018

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Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer International Publishing, Auflage 1, 136 Seiten

Erscheinungsdatum: 01.09.2022

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