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VLSI Design and Test for Systems Dependability

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer Tokyo, 800 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 20.07.2018

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VLSI Design and Test for Systems Dependability

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer Tokyo, Auflage 1, 800 Seiten

Erscheinungsdatum: 26.01.2019

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VLSI Design and Test for Systems Dependability

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer Tokyo, Auflage 1, 800 Seiten

Erscheinungsdatum: 01.08.2018

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