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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

This book provides a reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies. It introduces a new defect model for metastable defect states, nonradiative multiphonon theory and stochastic behavior.

Verlag: Springer US, 810 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 22.10.2013

106,99 € inkl. MwSt.
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Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer International Publishing, 517 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 29.10.2014

96,29 € inkl. MwSt.
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Noise in Nanoscale Semiconductor Devices

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer International Publishing, 729 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 26.04.2020

96,29 € inkl. MwSt.
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

This book provides a reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies. It introduces a new defect model for metastable defect states, nonradiative multiphonon theory and stochastic behavior.

Verlag: Springer US, Auflage 1, 810 Seiten

Erscheinungsdatum: 23.10.2013

160,49 € inkl. MwSt.
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

This book provides a reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies. It introduces a new defect model for metastable defect states, nonradiative multiphonon theory and stochastic behavior.

Verlag: Springer US, Auflage 1, 810 Seiten

Erscheinungsdatum: 01.10.2016

117,69 € inkl. MwSt.
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