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Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 319 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 09.03.2013

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Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 319 Seiten

Erscheinungsdatum: 25.11.2012

53,49 € inkl. MwSt.
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Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, held in Erice, Italy, 14-25 April, 1999

Verlag: Springer Netherland, 489 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

96,29 € inkl. MwSt.
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Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, held in Erice, Italy, 14-25 April, 1999

Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 489 Seiten

Erscheinungsdatum: 31.10.1999

106,99 € inkl. MwSt.
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Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, held in Erice, Italy, 14-25 April, 1999

Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 489 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.09.1999

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