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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Verlag: Springer US, 110 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.04.2011

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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Verlag: Springer US, Auflage 1, 110 Seiten

Erscheinungsdatum: 19.04.2011

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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


Verlag: Springer US, Auflage 1, 110 Seiten

Erscheinungsdatum: 28.05.2013

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