From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 150 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

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Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 150 Seiten

Erscheinungsdatum: 26.09.2011

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Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 150 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.04.1996

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VLSI Design for Manufacturing: Yield Enhancement

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 292 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

149,79 € inkl. MwSt.
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Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 292 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.11.1989

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Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 292 Seiten

Erscheinungsdatum: 21.09.2011

160,49 € inkl. MwSt.
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