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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer Berlin, 186 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 19.11.2005

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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer Berlin, Auflage 1, 186 Seiten

Erscheinungsdatum: 01.07.1984

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