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Ihre Suche ergab 11 Treffer.

Multi-Chip Module Test Strategies

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 167 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

96,29 € inkl. MwSt.
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Multi-Chip Module Test Strategies

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 167 Seiten

Erscheinungsdatum: 04.10.2012

106,99 € inkl. MwSt.
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Multi-Chip Module Test Strategies

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 167 Seiten

Erscheinungsdatum: 31.05.1997

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Embedded Processor-Based Self-Test

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 217 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 09.03.2013

149,79 € inkl. MwSt.
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On-Line Testing for VLSI

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 160 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 09.03.2013

96,29 € inkl. MwSt.
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Embedded Processor-Based Self-Test

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 217 Seiten

Erscheinungsdatum: 14.12.2011

160,49 € inkl. MwSt.
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On-Line Testing for VLSI

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 160 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.04.1998

106,99 € inkl. MwSt.
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On-Line Testing for VLSI

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 160 Seiten

Erscheinungsdatum: 06.12.2010

106,99 € inkl. MwSt.
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Embedded Processor-Based Self-Test

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 217 Seiten

Erscheinungsdatum: 20.12.2004

160,49 € inkl. MwSt.
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Collaboration and Technology

21st International Conference, CRIWG 2015, Yerevan, Armenia, September 22-25, 2015, Proceedings

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer International Publishing, 249 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 08.09.2015

50,28 € inkl. MwSt.
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