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1st Sino-German Workshop on Intelligent Sensing and Metrology

Proceedings, 26-27 July, Hannover, Qingdao, online

Produktform: Buch

Contents: High-Dimensional Computational Imaging Based on Structured Illumination GPU-Based Raytracing Simulation for the Identification of Low-Reflection Measurement Poses Fringe Projection Profilometry: Expansion in Algorithm and Technique Inspection Window Measurement System A New Method for Multi-Scale Fringe-Projection 3D Scanner Evaluation and for Modeling Surface Normal Dependent Influencing Factors of Local Phase Measurement Uncertainty Non-Line-of-Sight-Imaging Phase Error Compensation Using Deep Learning Measurement Data Registration: Comparision of Classical and ML Methodsweiterlesen

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-9590067-2-9 / 978-3959006729 / 9783959006729

Verlag: TEWISS

Erscheinungsdatum: 01.09.2022

Seiten: 96

Auflage: 1

Herausgegeben von Eduard Reithmeier, Xiang Peng

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