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Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Deutsch

ISBN: 978-3-662-11027-0 / 978-3662110270 / 9783662110270

Verlag: Physica

Erscheinungsdatum: 02.07.2013

Seiten: 231

Autor(en): Hans-Joachim Lenz, Ulrich Rendtel

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