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Advanced Test Methods for SRAMs

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-0937-4 / 978-1441909374 / 9781441909374

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 04.11.2009

Seiten: 171

Auflage: 1

Autor(en): Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel

106,99 € inkl. MwSt.
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