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Advanced Test Methods for SRAMs

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4899-8314-5 / 978-1489983145 / 9781489983145

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 03.09.2014

Seiten: 171

Auflage: 1

Autor(en): Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel

109,99 € inkl. MwSt.
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