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Advanced Test Methods for SRAMs

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-0938-1 / 978-1441909381 / 9781441909381

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 08.10.2009

Seiten: 171

Autor(en): Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel

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