Advances in Applications of Rasch Measurement in Science Education

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-031-28776-3 / 978-3031287763 / 9783031287763

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 31.07.2023

Seiten: 529

Herausgegeben von Xiufeng Liu, William J. Boone