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Advances in Pattern Recognition

Second Mexican Conference on Pattern Recognition, MCPR 2010, Puebla, Mexico, September 27-29, 2010, Proceedings

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-642-15991-6 / 978-3642159916 / 9783642159916

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 13.09.2010

Seiten: 384

Auflage: 1

Zielgruppe: Professional/practitioner

Herausgegeben von Josef Kittler, José Francisco Martínez-Trinidad, Jesús Ariel Carrasco-Ochoa Inst. Nacional de Astrofisica, Jesús Ariel Carrasco-Ochoa, Jose Francisco Martinez Trinidad, Kittler Josef

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