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Advances in Pattern Recognition

Second Mexican Conference on Pattern Recognition, MCPR 2010, Puebla, Mexico, September 27-29, 2010, Proceedings

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-642-15992-3 / 978-3642159923 / 9783642159923

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 22.12.2010

Seiten: 384

Herausgegeben von Josef Kittler, José Francisco Martínez-Trinidad, Jesús Ariel Carrasco-Ochoa Inst. Nacional de Astrofisica, Jesús Ariel Carrasco-Ochoa, Jose Francisco Martinez Trinidad

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