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Advances in X-Ray Analysis

Volume 35B

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4613-6532-7 / 978-1461365327 / 9781461365327

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 21.11.2012

Seiten: 641

Auflage: 1

Herausgegeben von John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, Paul K. Predecki, Deane K. Smith, C.S. Barrett, G.J. McCarthy, R. Ryon

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