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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-0-85729-309-1 / 978-0857293091 / 9780857293091

Verlag: Springer London

Erscheinungsdatum: 07.03.2011

Seiten: 152

Auflage: 1

Autor(en): Wei Li, Cher Ming Tan, Zhenghao Gan, Yuejin Hou

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