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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-0-85729-310-7 / 978-0857293107 / 9780857293107

Verlag: Springer London

Erscheinungsdatum: 28.03.2011

Seiten: 152

Autor(en): Wei Li, Cher Ming Tan, Zhenghao Gan, Yuejin Hou

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