Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Artikel empfehlen

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

Application to Rough and Natural Surfaces

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-540-28405-5 / 978-3540284055 / 9783540284055

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 04.08.2006

Seiten: 292

Auflage: 1

Autor(en): Gerd Kaupp

213,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

sofort lieferbar - Lieferzeit 1-3 Werktage

zurück