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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

Application to Rough and Natural Surfaces

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-642-06663-4 / 978-3642066634 / 9783642066634

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 12.02.2010

Seiten: 292

Auflage: 1

Autor(en): Gerd Kaupp

213,99 € inkl. MwSt.
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