Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Artikel empfehlen

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

Application to Rough and Natural Surfaces

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-540-28472-7 / 978-3540284727 / 9783540284727

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 24.10.2006

Seiten: 292

Autor(en): Gerd Kaupp

213,99 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

sofort lieferbar - Lieferzeit 1-3 Werktage

zurück