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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-7816-5 / 978-1441978165 / 9781441978165

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 19.04.2011

Seiten: 110

Auflage: 1

Autor(en): Weronika Walkosz

106,99 € inkl. MwSt.
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