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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4614-2857-2 / 978-1461428572 / 9781461428572

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 28.05.2013

Seiten: 110

Auflage: 1

Autor(en): Weronika Walkosz

106,99 € inkl. MwSt.
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