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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-7817-2 / 978-1441978172 / 9781441978172

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 06.04.2011

Seiten: 110

Autor(en): Weronika Walkosz

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