Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Beitrag zur flächenhaften Quantifizierung prozessbedingter Veränderungen der Oberflächenmikrogeometrie von Feinblechen

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Die Charakterisierung der Oberflächenmikrogeometrie dressierter Feinbleche bedingt eine flächenhafte, kennwertorientierte 3D-Rauheitsanalyse, um deterministische Strukturmerkmale und deren Veränderungen infolge des Umformprozesses sicher beschreiben zu können. Aufbauend auf dem Stand der Technik werden robuste 3D-Filteralgorithmen entwickelt, die eine nahezu isotrope Meßwertgüte beim laseroptischen Basissensors RM 600 trotz des sensorbedingten Rauschverhaltens sicherstellen. Das Potential der entwickelten 3D-Kenngrößen u. a. der Gradienten-, Schnittebenen- und Histogrammanalyse zur Quantifizierung von Oberflächenmerkmalen wird im Rahmen der Arbeit aufgezeigt. Rauheitsanalysen an praxisnahen, frei und gebunden umgeformten Modellprüfkörpern mit polierten oder original belassenen Oberflächen dokumentieren den Einfluß des Werkstoffs (u.a. Korngröße) und des Umformprozesses (Umformart, Umformgrad) auf die Veränderung der Oberflächenmikrogeometrie. In Kombination mit mikroskopischen Untersuchungen wird ein Modell zur Simulation von Oberflächenaufrauhungen durch den Umformprozeß unter Verwendung von Masterflächen entwickelt.weiterlesen

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Deutsch

ISBN: 978-3-936888-87-4 / 978-3936888874 / 9783936888874

Verlag: TEWISS

Erscheinungsdatum: 16.09.2005

Seiten: 153

Auflage: 1

Autor(en): Jürgen Tschimmel

49,00 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zurück