Broadband Reflectometry for Enhanced Diagnostics and Monitoring Applications

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-642-26797-0 / 978-3642267970 / 9783642267970

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 29.05.2013

Seiten: 150

Auflage: 1

Autor(en): Andrea Cataldo, Egidio De Benedetto, Giuseppe Cannazza