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Charged Semiconductor Defects

Structure, Thermodynamics and Diffusion

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-84882-058-6 / 978-1848820586 / 9781848820586

Verlag: Springer London

Erscheinungsdatum: 01.12.2008

Seiten: 298

Auflage: 1

Autor(en): Edmund G. Seebauer, Meredith C. Kratzer

160,49 € inkl. MwSt.
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